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ICT测试治具（ICT Test Fixture）专业制作高精度ICT治具,适用于常用ICT设备TRI、Okano、Tescon、Jet、Takaya、Hioki、Hibex、Possehl、Concord、GW、System、SRC等。
我们采用INGUN和QA两种探针供客户选择，并根据客户实际的测试强度及频率，合理建议客户采用相应的结构和有针对性地选择材料。
功能测试治具（Functional Test Fixture）根据客户的测试要求，图纸及参考方案进行设计，利用手柄、气缸、齿轮、轴承、滑轨、电机等,制作方便、经济的各种手动功能测试治具、气动功能测试治具和电动功能测试治具。
使用INGUN和QA探针，根据需要采用进口精密滑轨、电机及气动零部件等，确保测试性能的稳定。
使用INGUN和QA探针，根据需要采用进口精密滑轨、电机及气动零部件等，确保测试性能的稳定。
BGA & FPC微针测试根据客户的测试要求，图纸及参考方案进行设计，利用高精度CNC,钻孔精度0.01mm，钻孔间距0.25mm，钻孔孔径0.2mm，采用精密测试探针（单头或者双头）和防静电材料制作BGA和FPC精密夹具。测试BGA和FPC开路、短路、虚焊、漏件、错件、反向、IC空焊等自动化测试系统开发。
广泛用于手机、GPS、U盘、显卡、主板、通讯产品、MP3/MP4、等类型电子产品。
广泛用于手机、GPS、U盘、显卡、主板、通讯产品、MP3/MP4、等类型电子产品。