镀层测厚仪CMI900-S

CMI900 是一款性价比极高的台式 X 射线荧光光谱仪，应用于涂镀层厚度测量及材料成分分析。

镀层测厚仪CMI900-S高性能X射线荧光光谱仪

• 快速精确的分析：正比计数探测器和50瓦微焦X射线管，大大提高了灵敏度
• 简单的元素区分：二次光束过滤器可以分离重叠元素
• 性能优化，测量元素范围广： 可预设参数
  CMI900 提供800多种预设应用参数/方法
• 杰出的长期稳定性： 
  • 自动热补偿测量仪器温度，纠正变化，提供稳定的结果
  • 简单快速的光谱校准，定期检查仪器性能（如灵敏度），并提供必要的纠正

坚固耐用的设计

• 可以在实验室或生产线上操作
• 坚固的工业设计 
• 经行业验证的技术，在全球销售量超过3000台